步入式高溫老化房廣泛用于:電子、電器、連接器、五金、LED、LCD、模組、模塊、手機、塑膠、顯示器、二三極管、機箱、電鍍、插頭、電線、IC、磁鐵、線路板、馬達、電機、汽車配件、家電、通信、化工、科研、航天、模組、家具、主板、集成電路、太陽能光伏等領(lǐng)域。
步入式高溫老化房 型號:THR-容量(低溫選擇:A-C)
工作尺寸: 2000x2000x2500
備注:可根據(jù)客戶要求尺寸及溫度控制范圍訂制,滿足客戶的要求。
溫度范圍:A:0℃ ;B:-20℃ ;C:-40℃ D:-60℃/ 高溫:80℃
濕度范圍:20%-98%R.H(特殊要求:5%~98%RH;10%~98%RH:20%~98%RH)
內(nèi)外箱材質(zhì):內(nèi)外箱材質(zhì)為SUS304#不銹鋼板制
隔熱材料:聚苯乙烯、聚氨脂及巖棉,根據(jù)不同溫度選擇
解析精度: 0.1℃或0.01℃
控制精度:±1℃
溫度偏差:±2℃
波動度:±1℃
升溫時間:平均1~5℃/分鐘
降溫時間:10~60分鐘
系列噪音:≦55分貝
控制系統(tǒng):可程式:LCD彩色液晶控制器或標準型:LED數(shù)顯控制器
加熱系統(tǒng):特制高速電熱器
循環(huán)系統(tǒng):特制低噪音,多翼式循環(huán)風系統(tǒng)
安全裝置:漏電斷電保護,負載保護,超溫保護,風機過熱保護,聲光報警等
其它配件:玻璃觀察窗,測試孔,煙霧報警器、室內(nèi)照明、溫度記錄器(選配)
系統(tǒng)電源:AC 380(±10%)V,50HZ±0.5HZ,三相四線+保護地線
滿足標準:滿足標準GB/T2423.3《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗試驗Ca:高溫試驗方
步入式高溫老化房 老化房,又稱燒機房,ASLI是各種老化試驗中常用設(shè)備之一,廣泛應用于電腦、手機、電源、散熱風扇、LED顯示屏、電力監(jiān)控柜、鋰電池、電子、通訊等領(lǐng)域。老化房通常由圍護結(jié)構(gòu)、風道系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、室內(nèi)測試架構(gòu)等組成。老化房工程不僅僅集熱力、風力、電氣、電子、安裝等多個專業(yè)技術(shù)于一體,更需要豐富的工程實施和管理經(jīng)驗。老化房的設(shè)計與施工直接關(guān)系到整個老化系統(tǒng)是否能穩(wěn)定可靠的運行,能否保證整個生產(chǎn)流程穩(wěn)定、正常。由于老化房的性能及環(huán)境必須保證產(chǎn)品所需要的數(shù)量、溫度、電源質(zhì)量、帶載精確度、負載量、工作時間及操作人員的安全、使用環(huán)境、習慣等要求。所以,一套合格的老化設(shè)備,應該是一套安全可靠、高效節(jié)能、功能齊全和具有可擴充性的設(shè)備。
步入式高溫老化房 高溫老化房的特點:
○*的風道系統(tǒng)設(shè)計及電控系統(tǒng),能保持整個房間溫度均勻,控制準確,精度高。
○房間設(shè)定溫度范圍廣,在常溫~70℃范圍內(nèi)可任意連續(xù)可調(diào)。
○系統(tǒng)保護功能齊全,能確保安全長期穩(wěn)定*運行。
○外形美觀,施工方便,施工周期短。
1.高溫老化房主要技術(shù)參數(shù):
設(shè)
2:室體結(jié)構(gòu)及用料說明:
2.1墻體材料:庫體采用雙面彩鋼保溫庫板(EPS板、聚氨酯板或巖棉板)拼裝而成,板材厚度由老化房本身的需求和客戶的要求雙向進行選擇,庫板板材厚度有50mm、60mm、70mm、100mm等規(guī)格,彩鋼板的厚度有0.326mm、0.5mm等規(guī)格,整個庫體采用鋼架結(jié)構(gòu),鋁型材等固定支撐,庫體內(nèi)外采用鋁型材或不銹鋼板包邊;(地面處理部分根據(jù)客戶要求),接合處打密封玻璃膠,有效保證房間的密封性與美觀性。(房體材料的燃燒性能符合《建筑材料燃燒性能分級》B2級的規(guī)定。
2.2門洞與視窗設(shè)計:根據(jù)實際要求;
步入式高溫老化房 風力管道系統(tǒng)符合《通風與空調(diào)工程施工質(zhì)量驗收規(guī)范》GB50243-2002標準,通常采用循環(huán)系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)和超溫排風系統(tǒng)組成。循環(huán)系統(tǒng)、超溫排風系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)及配套的風道系統(tǒng)安裝于老化房部,不占用其它空間,,循環(huán)系統(tǒng)采用循環(huán)風機和配套風管進行循環(huán),可保證測試區(qū)內(nèi)溫度均勻,加熱系統(tǒng)采用電熱器加熱,加熱器放置于老化房上循環(huán)風道中,四周加防火隔熱材料。采用PID溫度模塊控制,溫度到達產(chǎn)品所需要溫度后,根據(jù)室內(nèi)溫度波動自動調(diào)節(jié)加熱器功率大小配合保溫庫板的保溫性,使室內(nèi)溫度精確穩(wěn)定在所設(shè)定溫度數(shù)值可在的時間內(nèi)內(nèi)將室溫加至設(shè)定溫度,當溫度升至設(shè)定值時加熱器停止加熱.加熱器具有過熱保護裝置(EGO),如客戶自身產(chǎn)品發(fā)熱則采用過熱排風系統(tǒng),發(fā)熱量小采用電動百葉自動負壓排風,發(fā)熱量大則采用低噪音風機排風,用變頻器控制其轉(zhuǎn)速。
循環(huán)控溫過程:當開機時加熱器開始加熱溫度到達設(shè)定值時加熱器停止加熱隨著時間的推移產(chǎn)品區(qū)溫度會逐漸上升當溫度超過設(shè)定上*排風系統(tǒng)開始動作將產(chǎn)品區(qū)過熱氣體排室外。變頻器會控制室外排風機進行運轉(zhuǎn),當溫度下降至設(shè)定值下*風機停止排風,排風系統(tǒng)同時關(guān)閉。循環(huán)系統(tǒng)在老化產(chǎn)品的過程中始終保持循環(huán)狀態(tài),以保證溫度均衡。整套系統(tǒng)動作具有性能穩(wěn)定,控制精確、溫度波動小,均衡度高、噪音小等特點。
噪音處理:采用低分貝的循環(huán)風機,風管采用3mm厚石棉包裹,既保溫又降低噪音,根據(jù)聲學原理,所有動態(tài)部位采用帆布、彈簧進行軟接處理,力求把噪音降到低標準。
四、老化房控制系統(tǒng);
采用兩級PID調(diào)節(jié)加熱量,實現(xiàn)對測試區(qū)(產(chǎn)品區(qū))溫度的精確控制,同時溫度控制器可以對測試區(qū)任意溫度進行滾動實時顯示,有獨立負載的還可以對負載區(qū)的溫度進行監(jiān)控,防止負載區(qū)溫度過高,方便客戶準確掌握測試區(qū)溫度情況??刂葡到y(tǒng)還設(shè)定了各種保護功能,有超溫報警保護、風機故障報警保護、無風報警保護、室內(nèi)煙氣感應報警保護等,完善的保護功能確保了老化房能長期穩(wěn)定*運行。(可選PLC來控制)
步入式高溫老化房 產(chǎn)品測試架:(可選)
產(chǎn)品測試架通常根據(jù)客戶產(chǎn)品和要求進行設(shè)計制。如需負載,則做相對應的負載框架配套生產(chǎn),一般測試架的設(shè)計要求結(jié)構(gòu)穩(wěn)固合理,操作方便,外形美觀、滿足功能等特點,大限度的滿足客戶的要求。
步入式高溫老化房 控制系統(tǒng)設(shè)計以及安全保護措施:
6.1電控設(shè)計參照《低壓配電設(shè)計規(guī)范》GB50054-95,《供配電設(shè)計規(guī)范》GB5002S2-95,《電氣裝置安裝工程接地裝置施工及驗收規(guī)范》GB50169-92,使電控設(shè)計標準化。
6.2控制系統(tǒng)集成老化功能設(shè)計。設(shè)計功能控制電柜,老化所需時間、溫度、各類操作開關(guān)可在一個控制電柜上操作;電柜面板設(shè)計美觀、操作簡單。
6.3老化過程可全自動控制,具有部分異常自處理功能,讓操作自動化、簡單化。
6.4具有多重保護功能,安全可靠。
a.電熱防干燒,風機故障或風管內(nèi)溫度過高時自動切斷循環(huán)系統(tǒng)電源,同時警報器報警。
b.電加熱與風機聯(lián)動設(shè)計,風機未能啟動時加熱器無法單獨啟動,在關(guān)閉時電熱與循環(huán)風機同時關(guān)閉,防止電熱因干燒而損壞。
c.加熱器連接采用耐高溫線材,300度不燃燒。
d.室內(nèi)安裝防爆型照明燈,提高燈泡壽命,防止燈泡爆破。
e.庫體采用難燃保溫材料,保溫性能好,安全系數(shù)高。
f.超溫聲光報警功能:老化過程中出現(xiàn)超溫狀況,則亮紅燈,蜂鳴器響起。
g.煙霧報警功能:室內(nèi)裝有煙感報警器,預防在老化產(chǎn)品的過程中某種原因使產(chǎn)品燃燒而報警,在報警時自動關(guān)閉老化房電源。
東莞艾思荔老化房,恒溫老化房,燒機室,高溫老化房,老化室,老化試驗室,老化烘房,步入式高溫老化房,大型老化房,老化測試房,老化測試柜除了可仿真產(chǎn)品在一般氣候環(huán)境溫濕組合條件下(高低溫操作&儲存、溫度循環(huán)、高溫高濕、結(jié)露試驗)..等,去檢測產(chǎn)品本身的適應能力與特性是否改變,以及針對產(chǎn)品在(低溫低濕、高溫低濕、高溫高濕降到低溫低濕..等)環(huán)境下是否會發(fā)生龜裂、破損,另外在低濕環(huán)境中的空氣靜電量是一般環(huán)境的30倍以上,據(jù)統(tǒng)計,半導體破壞率:59%是由靜電所引起的。